












測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測(cè)量精度
重復(fù)精度
總放大倍率
物方視場(chǎng)
工作距離
光柵尺解析度

測(cè)量精度
重復(fù)精度
總放大倍率
物方視場(chǎng)
工作距離
光柵尺解析度

測(cè)量精度
重復(fù)精度
總放大倍率
物方視場(chǎng)
工作距離
光柵尺解析度

新聞資訊
News時(shí)間:12-27 2024 來自:祥宇精密
影像測(cè)量儀通過光學(xué)鏡頭捕捉被測(cè)物體的圖像,并利用計(jì)算機(jī)軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理和分析,從而獲得物體的尺寸、形狀等信息。其工作原理主要包括以下幾個(gè)步驟:
影像測(cè)量儀常用的光源類型主要有以下幾種:
環(huán)形光是一種常見的光源類型,通常安裝在鏡頭周圍,形成一個(gè)均勻的光環(huán)。其主要特點(diǎn)包括:
同軸光是一種特殊的光源類型,其光線與鏡頭的光軸重合。其主要特點(diǎn)包括:
背光是一種從被測(cè)物體背面照射的光源類型。其主要特點(diǎn)包括:
點(diǎn)光源是一種集中在一個(gè)小區(qū)域內(nèi)的光源類型。其主要特點(diǎn)包括:
線光源是一種沿一條直線分布的光源類型。其主要特點(diǎn)包括:
不同的光源類型對(duì)影像測(cè)量儀的測(cè)量結(jié)果有著重要影響。具體表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:
不同類型的光源對(duì)圖像質(zhì)量的影響不同。例如,環(huán)形光能夠提供均勻的照明,減少陰影和反光的影響,使圖像更加清晰;而同軸光能夠消除陰影,增強(qiáng)反射,使圖像的對(duì)比度更高。
不同類型的光源對(duì)測(cè)量精度的影響也不同。例如,背光能夠突出物體的輪廓,減少表面紋理和顏色的干擾,提高測(cè)量精度;而點(diǎn)光源能夠提供聚焦的照明,突出特定區(qū)域的細(xì)節(jié),提高局部測(cè)量的精度。
不同類型的光源對(duì)測(cè)量效率的影響也不容忽視。例如,環(huán)形光和線光源能夠提供均勻的照明,減少圖像處理的時(shí)間,提高測(cè)量效率;而同軸光和點(diǎn)光源雖然能夠提高測(cè)量精度,但可能會(huì)增加圖像處理的時(shí)間,降低測(cè)量效率。
不同類型的光源適用于不同的測(cè)量任務(wù)和對(duì)象。例如,同軸光適用于光滑、反光較強(qiáng)的物體,如金屬表面、鏡面等;而背光適用于透明或半透明的物體,如玻璃、薄膜等。
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